篩分設(shè)備專家與您分享如何處理篩析數(shù)據(jù)

上篇我們已經(jīng)為大家介紹過篩析的其他相關(guān)信息，那么篩析結(jié)束后還有些什么工作呢？宋陵篩分設(shè)備專家稱篩析結(jié)束后，應(yīng)根據(jù)各粒級(jí)的重量計(jì)算個(gè)粒級(jí)的產(chǎn)率，即重量百分?jǐn)?shù)，以及累計(jì)產(chǎn)率。篩上累計(jì)產(chǎn)率指的是，大于某一篩孔尺寸個(gè)粒級(jí)產(chǎn)率的總和；相應(yīng)地，篩下累計(jì)產(chǎn)率是指小于該尺寸的粒級(jí)的總產(chǎn)率。在選礦工藝試驗(yàn)中，還常需將各粒級(jí)產(chǎn)品分別化驗(yàn)，然后計(jì)算金屬在各粒級(jí)中的分布率。

篩析結(jié)果常用圖形表示，稱為篩析曲線，或粒度分布曲線。一般用累計(jì)曲線，即橫坐標(biāo)為粒度，縱坐標(biāo)為累計(jì)產(chǎn)率。有時(shí)也利用直方圖繪制頻率分布曲線，即各粒級(jí)產(chǎn)率與各級(jí)平均粒度的關(guān)系曲線，此時(shí)可利用均值、標(biāo)準(zhǔn)利差、偏度、峰度等統(tǒng)計(jì)量具體地表征物料的粒度特性。

用普通坐標(biāo)分度法繪制的篩析曲線的主要缺點(diǎn)是，試點(diǎn)巖粒度坐標(biāo)分布疏密不勻，細(xì)粒部分試點(diǎn)密集，粗粒部分稀疏。為了使試點(diǎn)在圖上分布均衡，提出了10個(gè)以上改進(jìn)方法。最重要的設(shè)想是利用對(duì)數(shù)坐標(biāo)代替普通坐標(biāo)。若僅粒度坐標(biāo)按對(duì)數(shù)值分度，則稱為半對(duì)數(shù)曲線圖；如果累計(jì)產(chǎn)率和粒度都按對(duì)數(shù)值分度，就叫做全對(duì)數(shù)曲線圖。

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